X射线荧光(XRF)仪器的工作原理

  X射线荧光(XRF)仪器的工作原理是对被测样品发射一束一次X射线，样品的原子吸收X射线的能量后被激发并释放出二次X射线。每个化学元素会释放出特定能量的X射线。通过测量这些释放出的二次X射线的特征能量和强度，X射线分析仪就能够对被测材料的镀层厚度和成份提供定性和定量分析。

  X射线荧光分析的优点如下：

zui少或无需样品制备

无损分析　

可测元素范围广： Ti 22 to U92

可分析固体和溶液

分析快速：几秒内得到结果

定性、半定量和全定量分析

操作容易，只需要简单培训

X射线荧光标准检测方法、规格和操作指导通用，可提高产品质量、

安全性，便于市场准入和贸易，增强客户信心。

常规仪器应用如德国菲希尔x-ray镀层测厚仪、牛津x射线测厚仪等。

其他测量仪器引读：铁素体测量仪、紫外线灯。